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IL100紫外分光辐射照度测量 Otsuka大塚电子介绍

池田屋Otsuka大塚电子  紫外分光辐射照度测量系统IL100介绍

大塚电子(OTSUKA ELECTRONICS)的 IL100 是一款高精度紫外分光辐射照度测量系统,主要用于对光源(尤其是紫外光源)的光谱辐射照度进测量与分析

核心特点

  • 宽光谱覆盖:覆盖紫外线(UV)到红外光(IR) 的宽广波长范围。常见的探测器配置为 220-850nm(紫外-可见)和 300-950nm(紫外-可见-红外)

  • 高精度紫外测量:搭载高灵敏度紫外光谱传感器,可覆盖 UVA、UVB、UVC 全波段检测,测量精度可达 ±2% 以内

  • 模块化与灵活性:采用模块化设计,可根据不同应用需求选配照度测量头,例如高斜入射特性型或高灵敏度型

  • 软件控制:配备专用软件,可对照明电源和测量仪器进行统一控制,并支持 LIV(光-电流-电压)测量脉冲点测量样品温度控制测量等功能


技术规格

项目 规格参数
型号 IL100
检出器 紫外-可见 / 紫外-可见-红外
波长范围 220~850nm / 300~950nm
检出素子 512ch / 1024ch
像素分辨率 512ch: 1.4nm / 1024ch: 0.7nm
照度测量范围 3.5 ~ 1,400,000 lx
照度测量头 高斜入射特性型 / 高灵敏度型
标准灯泡 卤素灯 (用于UV-VIS-IR校准) / 氘灯 (用于UV校准)

可测量参数

  • 基础光度/辐射量:照度(lx)、辐照度(µW/cm²)、光谱辐照度(µW/cm²/nm)

  • 色度参数:三刺激值XYZ、色度坐标(xy, uv, u'v')、相关色温(K)及Duv、主波长(nm)、刺激纯度(%)

  • 显色性参数:一般显色指数Ra及R1至R15等15个特殊显色指数

  • 其他参数:峰值波长(nm)、半峰宽(nm)光子通量密度PFD光合光子通量密度PPFD (µmol/m²/sec)

系统配置与选件

  • 基本配置:包含探测器、光纤、照度头及数据处理单元

  • 直流电源控制选件:可在基本配置上增加,实现对样品照明的直流电源进行软件控制

  • 其他选件:还包括样品照明用电源(AC/DC)和温度控制单元等。

应用场景

IL100适用于多种需要光谱辐射测量的场合:

  • 光源研发与生产:如紫外LED、、灯等光源的性能评估与质量控制

  • 紫外辐射**检测:在医疗、美容、工业等场景中,检测环境紫外辐射剂量,确保符合**标准

  • 材料老化测试:在材料老化试验中,实时监测紫外辐射强度与光谱分布,用于耐候性研究

  • 光合作用研究:通过测量PFD和PPFD,用于植物生长灯等光源的评估


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