Otsuka大塚电子ZETA电位纳米粒径测试系统ELSZneoSE参数介绍
池田屋Otsuka大塚电子ZETA电位纳米粒径测试系统ELSZneoSE参数介绍
ELSZneoSE是日本大塚电子（OTSUKA）推出的一款高精度ZETA电位与粒径测试系统。其核心特点是灵活的模块化设计，允许用户根据实际需求和预算，在基础性能之上选配功能。
核心参数
测量项目 参数/范围
测量原理 粒径：动态光散射法 (DLS) / 光子相关法
ZETA电位：电泳光散射法 (ELS) / 激光多普勒法
粒径范围 0.6 nm ～ 10 μm
ZETA电位 无有效限制
电泳迁移率 -2×10⁻⁵ ～ 2×10⁻⁵ cm²/V·s
样品浓度 粒径：0.00001% (0.1ppm) ～ 40%
ZETA电位：0.001% ～ 40%
温度控制 0 ～ 90℃
主机尺寸 330 (W) × 565 (D) × 245 (H) mm
主机重量 约 22 kg
电源 100V 或 220V ± 10%, 250VA
特点
灵活的模块化设计：这是其核心优势。基础型号专注于粒径和ZETA电位测量，用户可按需选配分子量测定、粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶网状结构分析、粒径多角度测定等**功能。
高精度ZETA电位测量：通过实测并解析样品池内的电渗流（应用森·冈本公式），有效消除其对测量的影响，获得高精度的ZETA电位结果。
样品适应性强：
宽浓度范围：可测量从极稀（0.1ppm）到高浓度（~40%）的样品。
高盐环境：可在高盐浓度下测定平板状样品的表面ZETA电位。
操作与设计：标准流动池支持无需更换样品，连续进行粒径和ZETA电位测量。
温度梯度分析：内置0-90℃ 温度梯度功能，可用于研究蛋白质等温敏样品的变性及相变温度。
测量原理
粒径测量：基于动态光散射法（DLS），通过分析溶液中粒子布朗运动引起的散射光波动来测定粒径。
ZETA电位测量：基于电泳光散射法（ELS），通过测量带电粒子在电场中运动引起的散射光频率变化（多普勒频移）来计算ZETA电位。
应用领域
新型功能材料：如燃料电池（碳纳米管、催化剂）、纳米生物（纳米胶囊、DDS）等。
陶瓷与颜料：如陶瓷（二氧化硅、氧化铝）、颜料（炭黑）的分散与聚集控制。
半导体：用于硅片表面异物分析、CMP浆料研究等。
聚合物与化工：如乳液（涂料、粘合剂）、聚电解质的功能研究。
制药与食品：用于蛋白质、脂质体、乳液（食品、化妆品）的机能性检测和稳定性研究。