Otsuka大塚电子ZETA电位纳米粒子径测试系统nanoSAQLA
池田屋 Otsuka大塚电子ZETA电位纳米粒子径测试系统nanoSAQLA
nanoSAQLA是日本大塚电子（OTSUKA）推出的一款高通量纳米粒径分析系统。其核心设计解决了传统设备测样效率低下的痛点，无需自动进样器即可轻松实现5个样品的连续测量，非常适合需要处理大批量样品的质检和研发场景。
特点
高通量与高效率：标准配置即可一次放置5个样品并连续测量。每个样品测量仅需约1分钟，且可为每个样品独立设置不同的测量条件。
超宽浓度适应：采用新光学系统，能测量从0.1ppm的极稀溶液到40%的高浓度样品。
无交叉污染：采用非浸入式设计，样品池彼此独立，从根本上避免了交叉污染的风险。
操作简便：软件支持“一键测量”，无需复杂操作。
温度梯度分析：内置0-90℃的温度梯度功能，可用于研究蛋白质等温敏样品的粒径-温度依赖性和相变可逆性。
轻量小巧：主机尺寸仅 W240×D480×H375 mm，重约18kg，节省宝贵的实验室空间。
规格参数
项目 规格参数
测量原理 动态光散射法 (DLS) / 光子相关法
粒径测量范围 0.6 nm ～ 10 μm
浓度范围 0.00001% (0.1ppm) ～ 40%
温度控制范围 0 ～ 90℃
光源 高功率半导体激光 (660nm, 70mW)
检测器 高灵敏度雪崩光电二极管 (APD)
连续测量数 *多 5个 样品（主机）
样品容量 标准比色皿：1.2mL 起
微量比色皿：20μL 起
主机尺寸 W240 × D480 × H375 mm
主机重量 约 18 kg
电源 220V, 50/60Hz, 250VA
软件与分析功能
平均粒径解析：累积法（Cumulant）
粒径分布解析：Marquardt法、CONTIN法、NNLS法、Unimodal法
其他功能：粒度分布重叠、逆相关函数/残差曲线、粒径监测图、分子量计算（选配）、21 CFR Part 11合规支持（选配）
应用领域
半导体：CMP浆料、硅片表面异物分析等。
生物制药：蛋白质、脂质体的稳定性与聚集行为研究。
新材料：催化剂、碳纳米管、纳米胶囊等纳米材料的表征。
化工与聚合物：乳液、涂料、粘合剂等的质量控制。