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日本原装TORAY东丽 叠层测量装置
产品型号:OM-7000H
产品简介:

高精度测量晶圆键合错位和前后对准情况 实现了晶圆键合错位和前后对准的高精度测量。

详细介绍

<功能>

  • 全自动测量
  • 可通过透射和反射进行测量
  • 采用独特的测量算法进行高精度测量
  • 采用压电陶瓷平台的高精度聚焦
  • 自动保存NG图像
  • 两侧重叠的图案也可以测量。
  • 可集成到晶圆键合设备中

<规格(OM-7000H)>

应用实例:堆叠式图像传感器、堆叠式存储器(闪存、DRAM)、下一代IGBT等。

测量
方法

红外边缘检测
目标工作
样本
φ300mm
堆叠
晶圆

照明
反射
红外/透射红外

目标
5倍:全局对齐
20倍
:
测量

测量重复性
3σ≦10nm
测量
时间
每点5秒
清洁
级
一年级
全自动
测量
兼容GEM通信,
符合GEM300标准
池田屋实业(深圳)有限公司
联系人:张飞翔

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