YAMABUN山文电气软质薄膜测厚仪 NSW-X
NSW-X 是山文软质超薄薄膜专用 X 射线非接触测厚系统,低能 X 射线设计,替代传统 β 射线测厚仪,无放射源、无需复杂辐射资质审批,专门适配 PET、PI、拉伸光学膜、锂电薄膜等高附加值超薄卷材在线全幅扫描,同步检测厚度与面密度。
规格概览
扫描主机
电源线
使用说明书
适配场景
透光测量模组 产线联动闭环调节系统 防尘洁净改造套件