Otsuka大塚电子手持式分光干涉膜厚仪   SM-110SO

SM-110SO属于Smart 系列便携式非接触光学膜厚检测仪，主打现场便携无损测膜厚，替代传统台式膜厚仪，可直接产线、来料现场快速检测光学镀膜、涂层厚度。

1. 斜角探头专属优势
   45° 侧射出光，探头细长，可避开工件边框、凸起遮挡；适配 3D 曲面、窄边框盖板、镜头圆弧面、浅凹槽微型零件，垂直探头无法稳定测量的样品均可精准检测。
2. 高精度多层膜检测
   单层膜测量量程 0.1~100μm，*多解析 3 层复合光学膜；分辨率 0.1μm，重复精度 ±0.2μm，单次测量速度＜0.5 秒，批量检测效率高。
3. 便携手持一体化
   整机仅 350g，单手握持，机身尺寸小巧；内置锂电池，连续工作 8 小时，支持适配器持续供电，产线移动巡检无束缚。
4. 直观可视化操作
   彩色液晶屏幕实时显示膜厚数值 + 完整干涉光谱曲线，直观判断膜层均匀度、分层缺陷；内置常用膜材折射率库，自定义新材料 n 值即可快速测量。
5. 品质管控功能齐全
   可设定厚度上下限，超差屏幕高亮报警；内置存储记录 1800 组测量数据，自动计算均值、极差、标准差；USB 连接电脑导出光谱与检测报表，便于品质追溯。

规格概览

1. 参数项目	SM-110SO 规格
   测量方式	45° 斜向分光干涉反射式
   适用薄膜	硬化膜、AR 防反膜、ITO 导电膜、SiO₂氧化膜、各类透明树脂涂层
   单层膜量程	0.1μm～100μm
   多层膜规格	1～100μm，*多 3 层膜同步解析
   测量光斑	φ1.2mm
   重复测量精度	±0.2μm 以内
   测量分辨率	0.1μm
   单次测量时间	＜0.5s
   数据存储	1800 组，自带统计分析功能
   供电方式	内置锂电池（续航 8h）/AC220V 适配器直供
   整机重量	主机 350g（不含线缆）
   通信接口	USB 数据导出
2. 标配附件

膜厚仪主机

电源线

使用说明书

适配场景

加长型 SO 探头线缆

PC 专业光谱分析软件

台式固定支架