Otsuka大塚电子便携式智能膜厚仪  SM-110PO 

SM-110PO 属于Smart 系列便携式非接触光学膜厚检测仪，主打现场便携无损测膜厚，替代传统台式膜厚仪，可直接产线、来料现场快速检测光学镀膜、涂层厚度。

1.便携现场检测
无需固定工作台，可随身携带至产线、来料仓库、实验室，立体异形工件、无法切割破坏的成品直接测量。 2.零损伤检测
无探针接触，不会刮伤镀膜、柔性屏、光学镜片等高价值产品，杜绝检测报废。 3.高适配多层膜
PO 专业版支持 3 层以内复合涂层测量，适配 AR 增透膜、硬化膜、ITO 导电膜、UV 涂层、光学胶层。 4.抗杂光稳定测量
内置遮光光路结构，车间普通灯光环境下数据稳定，无需暗室环境。 5.数据管理
自动记录测量数据，可导出、批量统计，适配工厂品质管控追溯。

1. 规格概览
   

   参数项目	SM-110PO 标准规格
   测量方式	反射分光干涉式
   适用薄膜	透明 / 半透明树脂膜、光学涂层、SiO₂、氮化膜、硬化层、ITO 镀膜
   单层膜厚量程	0.1μm～100μm
   多层膜量程	1μm～100μm（*多支持 3 层薄膜解析）
   测量分辨率	0.1μm
   测量重复精度	±0.2μm 以内
   探头光斑（PO）	φ1.2mm 标准光斑，平面垂直照射
   测量响应速度	单次测量＜0.5s，产线快速巡检
   屏幕	彩色液晶，实时显示膜厚、反射光谱波形
   存储容量	内置内存存储 1800 组测量数据，支持均值 / *大 / *小 / 标准差统计
   通信接口	USB，连接电脑导出数据、光谱曲线
   供电	内置充电锂电池，连续工作 8h；支持 AC 适配器直供
   工作环境	0～40℃，无凝露，防尘车间适用
   整机重量	手持主机约 350g，轻量化长时间作业不累手
2. 标配附件

膜厚仪主机

测量探头

使用说明书

适配场景

加长型 PO 探头线缆

PC 专业光谱分析软件

台式固定支架