利用二维分布分析低相位差样品（例如半导体晶片、彩色玻璃和彩色丙烯酸树脂制品）的应变。1 分钟内可评估约 50 x 50 毫米的样品。
<型号名称> 全自动应变眼LSM-9001NIR <检测方法> 近红外旋转分析仪法
全自动测量功能可减少测量员的工作量和测量误差。 只需放置待测物体并点击测量按钮，即可利用内置摄像头捕捉的信息获得测量结果。由于无需测量员进行任何判断，因此消除了由判断引起的测量误差。
* 该仪器能够对半导体晶片、有色或透明产品进行应变评估，并测量残余应力和裂纹，而这些是传统偏光镜无法测量的。
软件分析工具 包括二维分布图横截面图、任意设定面积的直方图、二维分布图的三维显示、测量结果的CSV存储以及图像存储。这些功能均包含在软件中，可用于分析评估结果。
* 采用长寿命、节能的 高亮度LED作为光源。这减少了因更换光源而产生的维护时间和运行成本。