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日本原装TORAY东丽 荧光检测系统
产品型号:INSPECTRA® PL
产品简介:

利用 PL(光致发光)技术,可以自动检测出可见光外观检测无法发现的晶体缺陷、裂纹和发光缺陷。

详细介绍

功能>

  • 我们独特的光学系统和检测算法能够高速、高灵敏度地检测和分类晶体缺陷。
  • 可以检测晶圆上所有芯片的亮度变化和波长变化。
  • 通过将其作为晶圆视觉检测系统的选件进行安装,可以实现从原型到批量生产的一致性检测,不仅包括EPI工艺中的晶体缺陷检测,还包括图形化工艺中的视觉检测。
  • 将可见光检测与PL检测相结合,可以识别致命缺陷,从而提
目标样本 LED晶圆、芯片和基板
像素分辨率 0.325微米~
检查速度 10 分钟(4 英寸晶圆,10 倍放大,PL 检测)
支持的样本量 2英寸转G2.5
检查项目 PL检验/可见光外观检验
目标缺陷 亮度差、亮度波长偏差、晶体缺陷、裂纹、图案外观差等。
选项 波长估算、长度测量功能(芯片倾斜、未对准、无芯片)


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