池田屋分享光波动场三次元显微镜的介绍

池田屋分享光波动场三次元显微镜的介绍

MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。

MINUK专为检测传统显微镜难以观察的透明/半透明材料内部而设计，主要应用包括：

半导体与显示面板：检测透明薄膜、晶圆表面的纳米级缺陷、划痕、异物，以及TGV（玻璃通孔）的孔径和形状。

新材料与光学薄膜：评估透明材料的内部填充物分布、镀膜质量及微小形貌。

生命科学：用于无标记的活细胞观测，分析细胞结构和动态过程（如细胞分裂）。

MINUK通过一次拍照、无需对焦的设计，解决了透明材料内部纳米级缺陷“看不见、测不准”的难题，为半导体、新材料、生物医药行业提供了一种高效观测工具。

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