GP-510U紫外分光配光测量系统Otsuka大塚电子
池田屋Otsuka大塚电子紫外分光配光测量系统GP-510U
近期我司推出Otsuka大塚电子紫外分光配光测量系统GP-510U
GP-510U 是大塚电子面向紫外光源推出的桌面型分光配光一体化检测设备，属于 GP 系列专用紫外检测机型，专为 UV-LED 芯片、小型紫外模组设计，依托双轴精密测角机构搭配深紫外低杂散光光谱探测器，同步完成光源空间配光分布与各角度紫外光谱同步采集，依靠球面系数法换算紫外总辐射通量、光束角、峰值波长、空间辐照均匀度等核心指标。设备整机结构紧凑，可直接放置实验台面使用，适配紫外固化、特种紫外光源研发定型、来料品质抽检，检测数据符合 IESNA LM-75、JIS、CIE 相关检测规范，同时支持 JCSS 计量溯源校准，适配实验室研发、量产质检、第三方检测机构标定使用场景。
核心检测原理
设备采用样品旋转 φ 轴 + 受光探头摆动 θ 轴双轴驱动架构，待测紫外光源水平放置于样品平台，样品台 360° 旋转、接收探头沿圆弧角度扫描，覆盖光源全部出光角度。光纤将不同角度的紫外光束导入多通道光谱仪，逐角度采集紫外波段光谱辐射强度，软件整合全部角度光谱数据，绘制二维 / 三维紫外配光曲线，运算得出总光谱辐射通量、半功率光束角、中心*大辐射强度、照射面均匀分布云图。系统可联动光源直流供电设备，实现电气参数、光学参数同步记录，生成紫外光源 LIV 光电特性曲线，适配光源老化、功率对标测试
应用场景
紫外固化行业
UV 胶固化 LED、印刷 UV 灯、树脂固化模组的光束角、紫外有效辐射通量、光斑均匀性检测，指导聚焦透镜、反光杯结构优化，提升固化面能量一致性。
特种光电行业
紫外曝光光源、紫外荧光激发光源、车载紫外传感灯珠的光谱配光特性标定，验证光源角度性波长稳定性。
研发实验室
新型 UV 芯片荧光粉配比、封装结构、支架反光结构的光学效果对比测试，快速筛选封装工艺方案。